1、局部放電

     局部放電是指在絕緣的局部位置放電，它并不構(gòu)成整個絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式：內(nèi)部放電（在介質(zhì)內(nèi)部）、沿面放電（在介質(zhì)表面）、電暈放電（在電極**）。

2、電荷量q

     在試品兩端瞬時注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷量。

3、視在放電量校準(zhǔn)器
     視在放電量校準(zhǔn)器是一標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器，試驗前它以輸出某固定電量加之試品兩端，模擬該試品在此電量下放電時局放儀的響應(yīng)，此時調(diào)整刻度系數(shù)，確定局放儀的量程，以便在試驗時測量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時以標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器比較后間接測出，而非直接測出，故此放電量稱為“視在放電量”。
      校正電量發(fā)生器是測量局部放電時必備的儀器，它的性能參數(shù)直接關(guān)系到測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

　　視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器和校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成，其參數(shù)主要包括：脈沖波形上升時間、衰減時間、內(nèi)阻、脈沖峰值、校準(zhǔn)電容值等。

　　校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時間為從0.1U0到0.9U0的時間，衰減時間定義為從峰值下降到0.1U0的時間。

4、檢測阻抗

　　檢測阻抗是拾取檢測信號的裝置，在使用中，應(yīng)根據(jù)不同的測試目的，被試品的種類來選擇合適的檢測阻抗，以提高局部放電測量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。

　　檢測阻抗按調(diào)諧電容范圍分1～12號。（見表1）

5、時間窗（門單元）

　　時間窗是為防止大于局部放電的干擾信號進(jìn)入峰值檢波電路而設(shè)計的一種電路裝置。因在實際試驗時，尤其是在現(xiàn)場做試驗時，不可避免地會引入一些干擾，所以，時間窗的使用更顯得重要。

　　時間窗的工作原理是把橢圓掃描時基分成導(dǎo)通（加亮區(qū)域）和截止（未加亮區(qū)域）兩部分，通過改變時間窗的位置和寬度將放電脈沖置于導(dǎo)通（加亮區(qū)域），干擾脈沖置于截止（未加亮區(qū)域），此時儀表讀數(shù)即為放電脈沖數(shù)值，而干擾則不論大小，皆不會影響放電脈沖數(shù)值。若此時兩個時間窗同時關(guān)閉，則儀表讀數(shù)為整個橢圓上脈沖之峰值。